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更新時(shí)間：2023-08-18
倍增結(jié)構(gòu)、光侵入式室溫型HgCdTe探測(cè)器特點(diǎn)室溫下工作；無(wú)需偏置；響應(yīng)時(shí)間短；無(wú)閃動(dòng)噪聲；從DC到高頻范圍工作；與快速邏輯元器件*兼容；動(dòng)態(tài)范圍寬；大面積裝置；低成本；可根據(jù)客戶要求設(shè)計(jì)。
倍增結(jié)構(gòu)、光侵入式室溫型HgCdTe探測(cè)器
PVMI-n（n表示特性波長(zhǎng)，單位是微米）系列的光電探測(cè)器是多重異質(zhì)結(jié)紅外光電探測(cè)器，使用高折射率的GaAs（或CdZnTe ）過(guò)半球透鏡（標(biāo)準(zhǔn)）或者半球透鏡（可選）進(jìn)行光浸入。這些裝置工作在8～12微米的范圍內(nèi)，特別用于大范圍探測(cè)。他們的高性能和穩(wěn)定性可以通過(guò)近開(kāi)發(fā)的變隙半導(dǎo)體HgCdZnTe優(yōu)化摻雜面和改進(jìn)的表面處理來(lái)獲得。可以按客戶定制器件的要求提供四象限單元、多元件陣列、各種浸潤(rùn)鏡頭、視窗和光濾波器。標(biāo)準(zhǔn)可以供貨的探測(cè)器（不帶視窗）封裝是改進(jìn)的TO-39或BNC-based封裝。其它的封裝、視窗和連接器可以根據(jù)需求提供。
倍增結(jié)構(gòu)、光侵入式室溫型HgCdTe探測(cè)器參數(shù)：
特性（@ 20ºC） | 單位 | LD-PVMI-8 | LD-PVMI-10.6 |
特性波長(zhǎng)λop | μm | 8 | 10.6 |
探測(cè)率: at λpeak at λop | cmHz1/2/W |
≥6 x 108 ≥3 x 108 |
≥2 x 108 ≥1 x 108 |
響應(yīng)度–at λop | A*mm/W | ≥0.04 | ≥0.01 |
響應(yīng)時(shí)間τ | ns | ≤4 | ≤1.5 |
電阻 | Ω | 50-300 | 20-150 |
光學(xué)面積（長(zhǎng) × 寬） | mm× mm | 0.25×0.25; 0.5×0.5; 1×1; 2×2; | |
工作溫度 | K | 300 | |
視場(chǎng), F# | deg | 36, 1.62 | |
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